تولید الگوی آزمون خودکار پیشرفته با استفاده از الگوریتم PSO-FAN

چکیده مقاله

حوزه آزمایش مدارهای یکپارچه با مقیاس بسیار بزرگ (VLSI) در سال‌های اخیر پیشرفت‌های قابل توجهی در روش‌های تشخیص خطا تجربه کرده است، به طوری که این پیشرفت‌ها در کاربردهای پیچیده اهمیت فراوانی یافته‌اند. هرچند که روش‌های سنتی برای شناسایی مدارهای سالم و معیوب کارآمد هستند، اما معمولاً در تشخیص دقیق انواع مختلف خطا محدودیت‌هایی دارند. این مقاله به بررسی پیاده‌سازی یک الگوریتم بهینه‌سازی شده به نام FAN (الگوریتم تولید تست مبتنی بر خروجی) می‌پردازد که با استفاده از تکنیک بهینه‌سازی ازدحام ذرات (PSO) بر روی مدارهای معیاری ISCAS'89 انجام شده است. نتایج حاصل از این مطالعه نشان‌دهنده بهبود در پوشش خطا و افزایش دقت تشخیص می‌باشد. به علاوه، این بهینه‌سازی منجر به کاهش تعداد بردارهای آزمایشی مورد نیاز گردیده است که در نتیجه کارایی آزمایش را در شرایط تولید با حجم بالا افزایش می‌دهد. این تحقیق بر اهمیت توسعه معیارهای تشخیصی به منظور درک بهتر عیوب مدار تأکید می‌کند و به‌کارگیری تکنیک‌های طراحی که قابلیت آزمایش را تقویت کند، پیشنهاد می‌نماید. استفاده از PSO در الگوریتم FAN، نشان‌دهنده پتانسیل بالای این روش در فرآیند تولید تست است و موجب برقراری تعادلی مناسب بین دقت، پیچیدگی و کارایی عملیاتی می‌شود.